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新品發布:置富科技重磅推出5款SSD寬溫智能測試設備,推動存儲測試產業技術升級發表時間:2025-04-28 10:30 在存儲技術飛速迭代的浪潮中,固態硬盤(SSD)的性能與可靠性已成為行業競爭的核心壁壘。面對海量測試場景下的效率瓶頸與潛在缺陷檢測難題,置富科技以創新驅動市場,應運而生推出PCIe Gen5/Gen4/Gen3 SSD寬溫智能測試設備、SATA Gen3寬溫智能測試設備和SATA Gen3+PCIe Gen4 SSD寬溫智能測試設備,以智能化、精準化、場景化的解決方案,為SSD成品測試領域注入新動能。 直擊行業痛點:效率與精準的雙重突破PCIe Gen 4 SSD智能測試設備不僅支持: PCT斷電測試 BIT老化測試 IOPS速度測試 MDT協議測試 Protocol功能測試 JEDEC TEST耐久性測試 ...... 還能通過設置電壓拉偏(±10%,精度0.05V)模擬不同的電壓條件,來測試SSD在不同電壓環境下的表現,確保SSD在復雜工況下的信號完整性和電源穩定性。測試完成后,一鍵生成可視化報告與日志,協助產品研發定位故障位置和原因分析,直觀評估產品質量和可靠性使用狀態。 模塊架構設計:賦能企業級規模化測試針對企業級SSD高密度測試需求,設備采用模塊化架構設計,支持128~256盤位并行測試(可定制擴展),全面覆蓋企業級、工業級和消費級產品驗證。通過-60℃至150℃寬溫域精準控制,可模擬極寒、高溫、溫循等真實應用場景,精準評估SSD在數據中心、工業控制以及消費電子等領域的長期可靠性,確保產品生命周期內的耐用表現。 智能操作系統:降本增效重構測試范式置富科技突破傳統測試設備的操作桎梏,通過開放式工單配置平臺與Windows/Linux雙系統兼容設計,用戶可自由組合測試條件,靈活定制測試流程。結合網絡化遠程控制與自動化數據傳輸,實現“一鍵啟動、全程無人值守”的智能操作模式,可大幅提高測試效率,減少人工成本,為存儲制造商及研發機構提供高性價比的測試選擇。 全場景應用:驅動存儲產業技術升級目前,PCIe Gen4等 SSD寬溫智能測試設備已通過多家頭部存儲廠商的嚴格驗證,并在消費電子、云計算、數據中心、工業自動化等領域實現規模化測試,得到市場客戶廣泛認可。同時,基于市場需求發展趨勢,置富科技也已完成PCIe Gen5/PCIe Gen3 SSD寬溫智能測試設備、SATA Gen3寬溫智能測試設備和SATA Gen3+PCIe Gen4 SSD寬溫智能測試設備的產品路線布局,形成包含SATA Gen3到PCIe Gen5全兼容測試平臺的產品矩陣。 置富科技SSD寬溫智能測試系列設備,不僅滿足了當前市場對高性能SSD測試的需求,更為存儲行業的技術創新注入了新動力。未來,置富科技將持續深化智能測試技術創新,通過構建覆蓋全協議、全場景、全生命周期的存儲設備驗證體系,助力存儲產業實現從研發驗證到量產檢測的全流程質量升級。 聲明:此篇為廣告原創文章,轉載請標明出處鏈接:http://www.ld-1718.com/sys-nd/41.html
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