發明專利
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一種基于深度學習的閃存壽命預測
方法系統及計算機可讀存取介質
方法系統及計算機可讀存取介質
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一種基于操作時間或電流判斷閃存芯片可靠性
的方法及測試裝置
的方法及測試裝置
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一種基于決策樹算法的閃存
壽命預測方法及系統
壽命預測方法及系統
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一種基于深度學習的閃存壽命預測
方法、系統及計算機可讀存取介質
方法、系統及計算機可讀存取介質
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一種基于數學模型的閃存芯片
壽命預測方法
壽命預測方法
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一種在線動態預測閃存芯片壽命
的方法及裝置
的方法及裝置
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一種基于特征量的閃存壽命預測
方法、系統及存儲介質
方法、系統及存儲介質
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一種閃存存儲陣列的
實現方法和裝置
實現方法和裝置
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一種SSD內實現的閃存
壽命預測方法
壽命預測方法
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一種閃存接口控制
方法及裝置
方法及裝置
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一種閃存器軟件的信息
提取方法
提取方法
軟件著作權
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置富SSD多命令組合測試系統
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NAND閃存PE測試系統[簡稱FT-PE]
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NAND閃存數據保持測試分類與篩選系統
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閃存篩選方法軟件
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置富eMMC多工單可擴展測試系統
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置富eMMC老化測試系統
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置富科技固態硬盤閃存顆粒測試軟件
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置富科技固態硬盤閃存顆粒測試軟件
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置富MES系統[簡稱：ZFMES]
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置富半導體固態存儲測試軟件
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