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近50種芯片類型全覆蓋!置富科技在存儲芯片測試領域創造“芯”可能

發表時間:2025-04-28 10:25

在人工智能和萬物互聯的AI浪潮下,數據已成為驅動數字經濟的核心動能,而閃存芯片作為數據存儲的基石,其品質直接影響數據中心、智能終端等關鍵領域的運行效能與數據安全。


置富科技憑借自主研發的閃存測試技術和設備,通過多年的數據積累,依托AI人工神經網絡算法模型,建立存儲芯片底層大數據庫,為不同應用領域存儲芯片測試建模提供直觀的數據支撐。現已覆蓋近50種市場主流芯片規格 ,正以創新之力填補國內空白,推動產業發展!

閃存顆粒適配表
廠商顆粒型號類型

長存_井岡山

X1-9050

JC3BTLC
DU1B
UF09
DC3B
HC3B

長存_泰山

X2-9060

HC6CTLC
JC6C
DC6C
OC6C
C3G0
W130T
MF4C

長存_黃山

X2-6070

WQC1QLC

長存_武當山

X3-9070

Y2309TLC

長存_峨眉山

X3-6070

DCADQLC
HCAD
JCAD

長存_武夷山

X3-9060

DI8DTLC
HI8D
JI8D

長存_五臺山

X4-9060

YMN09TF1B5DFBETLC
美光L06BMLC
NW711SLC
B16TLC
B47R
B58R
N48RQLC
N58R
東芝/鎧俠BICS3(V23)TLC
BICS3(W23)
BICS4
BICS5
TH58TFT0DFKBA8JMLC
海力士V5TLC
V6
V7
V7-BAG152
英特爾 L06BMLC
N38QLC
閃迪WDC BICS5TLC
GT923
JC9T25
三星V6TLC
V6SB1
K6SB1


作為一家專業的閃存芯片智能測試服務商,置富科技已推出便攜式-專業版、生產版、科研版、寬溫版、卓越版、芯片測試自動分選機、芯片高溫篩選機、eMMC芯片智能測試系統和閃存失效分析儀,針對不同的應用場景,可提供不同的產品解決方案,也可以根據客戶需求,提供定制化測試服務。

圖片

置富閃存芯片智能測試系統,是一款可量身定制測試方案的綜合閃存測試系統,能同時支持多種測試pattern及自定義測試參數功能,可以實現閃存顆粒剩余壽命預測、實測、數據保持和讀干擾等多種功能性測試,同時支持寬溫測試,企業級芯片測試,幫助用戶檢驗閃存顆粒的可靠性狀態,是國內唯一自主研發的閃存芯片智能測試系統。該系統的研發和面世,可以極大地提高測試效率和精準度,保證存儲產品的良率,降低企業生產成本。

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置富科技將繼續深耕存儲器測試領域,通過持續的數據積累,不斷的優化創新,以智能化測試技術賦能存儲芯片全生命周期管理,推動存儲器測試產業健康有序發展。


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