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置富科技首發eMMC測試設備亮相第二十三屆高交會,榮膺優秀展示獎

發表時間:2022-04-01 10:29

12月29日,以“推動高質量發展,構建新發展格局”為主題的第二十三屆中國國際高新技術成果交易會(下稱“高交會”)在深圳會展中心(寶安館+福田館)圓滿落下帷幕。作為“中國科技第一展”,本屆高交會創造了首個實行一會兩館的歷史,集中展示新一代信息技術、生物技術、新能源、新材料、互聯網、大數據、人工智能、閃存芯片等各產業深度融合的新技術、新產品、新業態和新模式,為各位展商和專業觀眾奉上了一場科技盛宴。


高交會現場

本次展會置富科技首次發布了自主研發的eMMC存儲芯片測試設備。隨著信息化的不斷發展,手機已經成為eMMC市場的最大應用領域,其次是平板電腦、電子書閱讀器和具備GPS的便攜導航設備,以及攝像機和機頂盒,該產品有著較強的可靠性與性能,在高端產品中,eMMC市場將在未來幾年保持增長。


置富科技eMMC存儲芯片測試設備具有寬溫篩選、壽命預測、原始數據采集、等級劃分、數據保持測試、Read-retry、定制化等功能,可以為手機/平板電腦廠商、攝像機、機頂盒、GPS便攜導航設備等廠商,提供專業及高精準度的測試服務。


eMMC存儲芯片測試設備(左)和便攜式-專業版測試設備(右)展示


除此之外,置富科技還重點展示了便攜式-專業版、科研版測試設備以及自主可控芯片和精準定義的消費類、行業類、工業類、服務器類部分固態存儲產品,不僅受到了現場觀眾、存儲行業客戶、媒體和投資機構的青睞,并獲得2021年中國國際高新技術成果交易會智慧城市展“優秀展示獎”。

四大應用領域固態硬盤和自主可控Flash顆粒展示
置富科技榮獲高交會組委會頒布的優秀展示獎

展會第二天,深圳計算機行業協會杜和平會長一行蒞臨置富科技展位參觀指導,對我們的閃存壽命預測技術和閃存芯片智能(AI)測試設備表示高度認可。

計算機協會杜和平會長一行蒞臨指導

置富科技高級測試工程師通過閃存芯片智能(AI)測試系統對閃存顆粒進行壽命預測,實時生成測試報告,為觀眾講解測試設備功能,分析測試原理,共享測試技術和存儲行業相關信息。

客戶比亞迪參觀設備
高級測試工程師講解測試原理
高級測試工程師介紹便攜式測試設備

高級測試工程師與客戶溝通產品需求

雖然受到疫情的影響,寒風的侵襲,但是本屆高交會精彩與熱情都不曾缺席。通過本次展會,置富科技更加貼近客戶群體,了解客戶需求,洞悉存儲行業最新動態。在以后的發展中,我們將繼續砥礪前行,為廣大客戶提供優質的服務和精準的產品解決方案

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