置富科技閃存可靠性分析與測試技術研討會完美落幕

3月16日，中國計算機行業協會信息存儲與安全專業委員會與置富科技聯合舉辦的“2023閃存可靠性分析與測試技術研討會”在深圳觀瀾湖度假酒店成功舉辦。本次研討會圍繞著閃存可靠性研

究、閃存失效分析、閃存存儲體系發展趨勢、國內外閃存標準現狀分析以及閃存測試方法等熱點話題展開，匯集120余家從事閃存存儲領域的產、學、研、用、測等企業和機構共200余觀眾，就閃存可靠性分析和測試技術進行交流探討。

陽主任在會議中主要從閃存產業發展背景、產業面臨的主要問題以及如何規范化發展這三個方面作專題報告，并針對閃存安全隱患多，數據風險大，可靠性低，數據風險大，規范性不明確等突出問題提出：建立和健全閃存產業的標準化體系，加強閃存產品的權威檢測和認證，推進產品質量風險監管的解決方案，以保證產品品質。

劉先生提出：“為打造高質量閃存產品品牌和行業生態，引領和促進行業應用，需要結合行業迫切需求，有計劃的制定涵蓋產品標準、基礎標準及應用標準等類型的系列方法規范，為閃存行業的相關產品研發、應用選型和認證測評服務等提供依據和參考”。

王部長表示：“存儲是數據基礎設施的重要組成，是數字經濟高質量發展的基石，存儲、計算、網絡三者需要協同發展，只有數據存的好、算得快才能存的穩”。

陳教授從3D NAND閃存的最新進展、3D NAND的結構特點出發，分析了閃存可靠性問題，提出目前3D NAND的結構以及工藝等特點決定了閃存的可靠性特性。

裴先生主要從SSD角度分析NAND測試面臨的挑戰，以及NAND的特性影響了數據可靠性等問題，并為優化測試流程，挖掘NAND潛力，打造高可靠SSD提供了解決方案。

王博士通過對三維NAND閃存數據保持問題的解讀，重點闡述高效重讀糾錯算法和互信息輔助譯碼優化算法，可以有效提升三維NAND存儲系統在高損耗及長待機等極端條件下的讀寫性能及糾錯能力。

熊女士從閃存測試重要性和必要性方面，向與會嘉賓分享了置富科技智能閃存測試平臺的主要功能和原理，在基于動態預測模型和閃存智能預測技術上，以及如何兼顧準確和效率，有效得實現NAND 篩選分級和應用指導。

方教授通過對錯誤類型、原始誤碼率、糾錯頻率、不同類型(MLC, eMLC, SLC驅動器)的可靠性比較，闡明了在大規模部署SSD的情況下，上層的應用軟件需要考慮SSD存儲的容錯機制，防止數據在SSD中丟失，也由于SSD故障模型的變化，上層軟件的容錯機制需要做出調整，適應SSD局部故障的問題。

羅先生從數據中心基礎設施演進趨勢和企業級SSD發展現狀及問題，綜合闡述了存儲軟硬結合潛在的重要性，希望行業伙伴通過合作實踐，共同打造良好的行業生態。

韓教授從3D器件特性測試、智能信道檢測技術研究、智能信道估計技術研究三個方面介紹了深度學習輔助的3D閃存信道檢測與估計技術研究的重要性和優勢特點。

吳博士表示：“存儲是信息的基石，存儲需求無處不在，從遠古結繩記事，到當今閃存技術，再到未來DNA存儲 ，存儲技術一直是人類進步的階梯。”

田先生表示在目前國際形勢下，在高性能運算微系統中，chiplet和先進工藝可以較大程度支持我國經濟發展對未來對算力的需求，并結合chiplet的特點，形成統一的接口、IP、布局、2.5D/3D工藝標準和測試標準。